誤碼率分析儀
主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

• 高達(dá)28.6 Gb/s 的碼型發(fā)生、誤碼分析和BER 測(cè)試能力
• 經(jīng)校準(zhǔn)的集成經(jīng)校準(zhǔn)的集成壓力生成技術(shù)，滿足多種標(biāo)準(zhǔn)壓力接收機(jī)靈敏度和時(shí)鐘恢復(fù)抖動(dòng)容限測(cè)試要求
• • *高100MHz 的正弦抖動(dòng)(SJ)頻率
  • 隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)
  • 有界不相關(guān)抖動(dòng)(BUJ)
  • 正弦干擾(SI)
  • 擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘
  • PCIe 2.0和3.0接收機(jī)測(cè)試
  • IEEE 802.3ba和32G光纖通道測(cè)試
• 加壓力的電眼圖測(cè)試包括：
• • PCI Express
  • 10/40/100Gb 以太網(wǎng)
  • SFP+/SFI
  • XFP/XFI
  • OIF/CEI
  • 光纖通道(FC8, FC16, FC32)
  • SATA
  • USB 3.0*
  • InfiniBand (SDR, QDR, FDR, EDR)
• 抖動(dòng)裕量(Margin)測(cè)試、抖動(dòng)容限一致性模板測(cè)試
• 快速輸入上升時(shí)間/高輸入帶寬錯(cuò)誤檢測(cè)器，準(zhǔn)確分析信號(hào)完整性
• 物理層測(cè)試套件，支持模板測(cè)試、抖動(dòng)峰值、BER輪廓和Q因子分析，使用標(biāo)準(zhǔn)或用戶自定義抖動(dòng)容限模板庫進(jìn)行全方位測(cè)試
• 集成的眼圖和BER相關(guān)分析
• 抖動(dòng)分離及定位（Jitter Map)選件系統(tǒng)豐富的抖動(dòng)解析 – 支持長碼型(如PRBS-31)抖動(dòng)三角測(cè)量，把基于BER的抖動(dòng)分解功能擴(kuò)展到Dual Dirac TJ、DJ和RJ限制之外，**分解抖動(dòng)子成分
• **的誤碼定位分析技術(shù)（Error Location Analysis^TM），迅速了解BER性能限制，評(píng)估確定性誤碼與隨機(jī)性誤碼，執(zhí)行詳細(xì)的碼型相關(guān)誤碼分析，執(zhí)行誤碼突發(fā)分析或無誤碼間隔分析

應(yīng)用

• 設(shè)計(jì)驗(yàn)證包括信號(hào)完整性、抖動(dòng)和時(shí)序分析
• 對(duì)高速串行系統(tǒng)、復(fù)雜設(shè)計(jì)的性能測(cè)試
• 串行數(shù)據(jù)流和高性能網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)認(rèn)證測(cè)試
• 設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證高速I/O 組件和系統(tǒng)
• 信號(hào)完整性分析- 模板、峰值抖動(dòng)、BER 輪廓、抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)和Q 因子分析
• 設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證光發(fā)射接收機(jī)

多域觀測(cè)

眼圖一直作為系統(tǒng)性能簡單、直觀的表現(xiàn)，但是很難和BER性能聯(lián)系起來，因?yàn)闇y(cè)試儀器從根本上有很大的差別。示波器測(cè)量的眼圖是由較少的測(cè)試樣本組成，不容易發(fā)現(xiàn)一些罕見偶發(fā)的事件。誤碼儀 (BERT) 能夠?qū)γ恳粋€(gè)比特計(jì)數(shù)，因此能夠提供基于很大量數(shù)據(jù)集樣本的測(cè)試，但是測(cè)試結(jié)果缺乏對(duì)信息的直觀的表征和故障排查。

BERTScope結(jié)合兩者的優(yōu)勢(shì)，允許快速、簡單的觀測(cè)眼圖，并比傳統(tǒng)的眼圖測(cè)試樣本多至少多兩個(gè)數(shù)量級(jí)?？梢园凑丈蠄D的例子中所示的那樣，通過簡單的移動(dòng)BERT 的采樣點(diǎn)，將光標(biāo)放在感興趣的地方，使用強(qiáng)大的誤碼分析能力，獲得更多更深入的信息。例如，檢查碼型對(duì)當(dāng)前上升沿影響的敏感程度?；蛘?，使用一鍵式BER 輪廓測(cè)量，檢驗(yàn)是否性能問題是有界的，或者可能會(huì)導(dǎo)致哪些故障。在每一個(gè)例子里，測(cè)試樣本碼型可以是2³¹-1的偽隨機(jī)碼，可以幫助建立模型或者故障定位。

數(shù)據(jù)豐富的眼圖

BERTScope 測(cè)試光接口信號(hào)。在這個(gè)例子中自動(dòng)切換光域測(cè)量。

 

正如前面所示，BERTScope 在測(cè)量數(shù)據(jù)樣本深度方面與傳統(tǒng)的眼圖測(cè)試有著巨大的差異。這個(gè)差異意味著你能看到更加真實(shí)的情況，無論是什么樣的系統(tǒng)，更多低概率事件將會(huì)隨著每次長數(shù)據(jù)碼型運(yùn)行而出現(xiàn)，不管是有隨機(jī)噪聲，還是從VCO引起的隨機(jī)抖動(dòng)。通過一鍵式的BER Contour、抖動(dòng)峰值和Q-因子測(cè)試，能夠增加對(duì)系統(tǒng)更深層次的認(rèn)識(shí)，增加對(duì)設(shè)計(jì)的信心。

深度模板測(cè)試

由于可以改變采樣深度，因此BERTScope 即可以利用深度測(cè)量，得到高精度的系統(tǒng)的性能，又可以用少量樣本測(cè)試，和取樣示波器的測(cè)試結(jié)果匹配。在上圖所示的是光接口的眼圖測(cè)試。如果將BERTScope的采樣深度僅設(shè)置為3000 個(gè)波形，BERTScope 在1 秒鐘之內(nèi)就能生成眼圖。測(cè)量得到的裕量有20%，和取樣示波器的測(cè)試結(jié)果一致。下面一點(diǎn)的圖顯示的是使用一致性輪廓測(cè)量得到的誤碼率水平為10^-6的結(jié)果，模板裕量減少到17%。

 

眼圖測(cè)試樣本深度優(yōu)勢(shì)至少是模板測(cè)試的10倍。不像其他誤碼儀提供的“偽”模板測(cè)試那樣，BERTScope能對(duì)模板邊沿的每一個(gè)樣點(diǎn)進(jìn)行采樣，包括在眼圖之上和之下的區(qū)域。不僅如此，每一個(gè)點(diǎn)都能看到之前從未看到過的深度。這意味著既是使用工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化模板或自定義模板持續(xù)測(cè)試幾秒鐘，也能確保被測(cè)設(shè)備沒有隱藏的問題。

為工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)提供高精度的抖動(dòng)測(cè)試

無論測(cè)試碼型的長短，靠推算得到抖動(dòng)結(jié)果得方法是不能達(dá)到*高抖動(dòng)測(cè)量精度的。BERTScope 能快速測(cè)量誤碼率水平為10^-9(高速信號(hào)可達(dá)10^-10)，或者等待儀器直接測(cè)量到10^-12水平。對(duì)于這兩種測(cè)試方法，BERTScope 的一鍵式測(cè)量都嚴(yán)格符合MJSQ 定義的抖動(dòng)測(cè)試方法，并且BERTScope 中內(nèi)部的延遲 控制是誤碼儀中*好的，可以確保抖動(dòng)測(cè)試的精度?？墒褂脙?nèi)建的抖動(dòng)計(jì)算模型，包括TJ，RJ，DJ，或者將測(cè)試數(shù)據(jù)輸出，進(jìn)行自定義的抖動(dòng)建模分析。

BSA286C的低固有RJ可以同時(shí)滿足802.3ba的VECP(垂直眼圖閉合代價(jià))和J2/J9校準(zhǔn)，并提供所需的重要裕量，**檢定100G以太網(wǎng)芯片。

模板一致性輪廓測(cè)試

目前許多的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)像XFP/XFI和OIF CEI等都定義模板測(cè)試，其目的是確保在誤碼率水平為10^-12時(shí)眼的張開度。一致性輪廓(等高線)視圖可以方便的了解到在不同誤碼率水平下模板是否通過。

快速選型指南

靈活的時(shí)鐘模式

BERTScope STR 選項(xiàng)的時(shí)鐘路徑

 

BERTScope 非常有特色時(shí)鐘產(chǎn)生路徑，為現(xiàn)實(shí)世界中不斷涌現(xiàn)出的設(shè)備提供了靈活的測(cè)試方案。無論是電腦插卡還是硬盤，通常都需要提供子速率(sub-rate)系統(tǒng)時(shí)鐘，例如PCIExpress中100MHz的時(shí)鐘。為了能使被測(cè)系統(tǒng)正常工作，需要提供差分的系統(tǒng)時(shí)鐘，而且時(shí)鐘的幅度、偏置各有不同；BERTScope 內(nèi)部提供靈活的分頻系數(shù)，其靈活構(gòu)架可以完成各種時(shí)鐘的生成。

PCI Express Tx 端測(cè)量- 上面的截圖是用BERTScope 進(jìn)行的一致性測(cè)量。PCI Express 子卡插在一致性測(cè)試板中，BERTScope 提供正確幅度和偏置的100MHz 的差分信號(hào)作為時(shí)鐘。使用BERTScope CR(時(shí)鐘恢復(fù)模塊)為子卡輸出的數(shù)據(jù)信號(hào)按照一致性要求的環(huán)路帶寬進(jìn)行時(shí)鐘恢復(fù)。左上圖顯示的是被測(cè)設(shè)備通過了相應(yīng)的測(cè)試模板。右上圖是該信號(hào)使用Q- 因子算法得到**的去加重平均幅度。下方的兩截圖是對(duì)于跳變位所做的同樣的測(cè)量。

 

擴(kuò)頻時(shí)鐘(SSC)通常用于串行系統(tǒng)中，以減小EMI 的干擾。BERTScope可以調(diào)節(jié)的SSC的調(diào)制幅度、頻率和調(diào)制的輪廓，如三角波、正弦波等，因此允許測(cè)試任何一種使用SSC技術(shù)的一致性標(biāo)準(zhǔn)。還可使用額外的調(diào)制器和信號(hào)源產(chǎn)生耦合了高幅度、低頻率的正弦抖動(dòng)(SJ)的時(shí)鐘。

處理閉合的眼圖

BERTScope 的用戶界面設(shè)計(jì)友好、操作簡單。上圖顯示的是不同tap權(quán)重對(duì)預(yù)加重影響的時(shí)域特性。下方的波特圖顯示是濾波器如何補(bǔ)償通道的損耗。

 

隨著通道中電信號(hào)的數(shù)據(jù)率越來越快，通道的損耗經(jīng)常導(dǎo)致信號(hào)在Rx端的眼圖閉合。在實(shí)際的系統(tǒng)中，常使用Equalization(均衡)補(bǔ)償通道的損傷，以得到“張開的眼圖”。Tektrnoix 提供了強(qiáng)大的工具來幫助設(shè)計(jì)者測(cè)試和鑒定Tx/Rx組件是否滿足標(biāo)準(zhǔn)。

對(duì)于Rx測(cè)試，DPP125數(shù)字預(yù)加重器為BERTScope增加了經(jīng)校準(zhǔn)的預(yù)加重輸出，用以模擬Tx 端的預(yù)加重特性。預(yù)加重目前廣泛使用在10GBASE-KR, PCIe, SAS, DisplayPort, USB3.0 等標(biāo)準(zhǔn)中。

特點(diǎn)：

• 1-12.5Gb/s 時(shí)鐘頻率
• 兩種型號(hào)分別支持3- 階或4- 階tap
• 靈活的光標(biāo)位置，允許預(yù)設(shè)光標(biāo)和滯后光標(biāo)
• 選項(xiàng)ECM (眼圖張開器、時(shí)鐘復(fù)用器、時(shí)鐘倍頻器)

PatternVu

PatternVu

 

PatternVu 選件是一套軟件實(shí)現(xiàn)的FIR 濾波器，能夠在眼圖顯示之前使用。在使用均衡的Rx 系統(tǒng)中，PatternVu 能夠觀測(cè)、測(cè)量在Rx 端均衡之后、判決之前信號(hào)的眼圖，即能將均衡的影響包含在測(cè)試結(jié)果中。均衡器*多允許有32個(gè)抽頭(tap)，并且可以選擇每個(gè)UI 的抽頭(tap) 分辨率。

PatternVu還包括CleanEye功能，即碼型固定的、經(jīng)過平均處理后的眼圖，可以去除眼圖的非確定性抖動(dòng)分量。CleanEye能夠在存在大量Rj 的情況下，清晰的看到ISI 對(duì)系統(tǒng)的影響。

單次波形數(shù)據(jù)值輸出是PatternVu 的一個(gè)部分，能夠顯示所捕獲的固定碼型中的任意一個(gè)比特，非常類似實(shí)時(shí)示波器中的單次捕獲功能。一旦被捕獲，波形數(shù)據(jù)能夠以多種格式輸出，以便使用其他工具進(jìn)行分析。

時(shí)鐘恢復(fù)

直觀用戶界面提供了對(duì)所有操作參數(shù)的簡單控制。獨(dú)特的環(huán)路回饋視圖描繪了環(huán)路帶寬的特性-該圖是真實(shí)測(cè)量的結(jié)果，而不是數(shù)據(jù)設(shè)置過程

 

Tektronix的CR125A, CR175A, 和CR280A產(chǎn)品提供了靈活的一致性時(shí)鐘恢復(fù)方案。許多標(biāo)準(zhǔn)的抖動(dòng)測(cè)試要求使用指定環(huán)路帶寬的時(shí)鐘恢復(fù)。使用不確定或未知的環(huán)路帶寬將帶來錯(cuò)誤的抖動(dòng)測(cè)量。Tektronix*新的時(shí)鐘恢復(fù)儀器能夠?yàn)楦鞣N標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試提供簡單、**的測(cè)量。

顯示和測(cè)量SSC 抖動(dòng)波形

SSC 波形測(cè)量


Tektrnoix CR 和CRJ 不受到BERTScope 的限制，還可以配合其他儀器使用，如取樣示波器或誤碼儀等。可以和其他已有的儀器組成一致性測(cè)量系統(tǒng)。

 

擴(kuò)頻時(shí)鐘(SSC)在*新的串行標(biāo)準(zhǔn)中經(jīng)常使用到，以減小EMI干擾，例如：SATA，PCI Express和下一代SAS。Tektronix CR家族支持?jǐn)U頻時(shí)鐘的恢復(fù)，能夠顯示和測(cè)量SSC調(diào)制波形。包括了*大、*小頻率偏差(ppm或ps為單位)、調(diào)制變化率(dF/dT)和調(diào)制頻率等自動(dòng)化測(cè)量項(xiàng)目。也包括了數(shù)據(jù)速率的顯示以及簡單易用的垂直、水平光標(biāo)。

抖動(dòng)分析

抖動(dòng)頻譜測(cè)量

 

配有GJ選項(xiàng)的Tektronix CR125A、CR175A或CR286A，可以和取樣示波器或者誤碼儀一起使用多種時(shí)鐘恢復(fù)從1.2-11.2Gb/s進(jìn)行DCD 和實(shí)時(shí)抖動(dòng)頻譜分析。抖動(dòng)頻譜顯示頻率范圍從200Hz 到90MHz，可以使用光標(biāo)進(jìn)行測(cè)量?？梢允褂糜脩艨稍O(shè)置的頻率限定進(jìn)行抖動(dòng)的帶限測(cè)量( 上圖例子中是P C IExpress2.0 預(yù)設(shè)的帶寬限制和抖動(dòng)測(cè)量)

Rx 端壓力眼圖測(cè)試

像進(jìn)行PCI Express2.0這類的串行總線一致性Rx端壓力測(cè)試，通常需要用到多臺(tái)獨(dú)立的儀器和設(shè)備，不得不花幾個(gè)小時(shí)去設(shè)置儀器、連接被測(cè)設(shè)備。通過BERTScope一臺(tái)儀器，以及測(cè)試向?qū)砜刂扑械慕?jīng)校準(zhǔn)的壓力源，非常方便的進(jìn)行Rx 端的壓力測(cè)試- 這些都是在一臺(tái)儀器中完成的。該方案不需要外部電纜、混頻器、耦合器、調(diào)制器，減少了校準(zhǔn)過程，大大簡化了壓力測(cè)試的校準(zhǔn)和測(cè)試。

 

外部連接的網(wǎng)絡(luò)隨時(shí)都在變化，這構(gòu)成了Rx 端測(cè)試的一大挑戰(zhàn)。雖然像誤碼測(cè)試和Rx靈敏度測(cè)試非常的重要，但在現(xiàn)實(shí)世界，像10Gb/s的背板系統(tǒng)和其他高速總線的Rx 抖動(dòng)容限性能必須要考慮到。壓力眼圖測(cè)試(Stressed Eye Testing)現(xiàn)在在許多的工業(yè)規(guī)范中變得越來越常見。另外，工程師可以利用壓力眼圖測(cè)試來發(fā)現(xiàn)Rx端接收性能的極限，用以檢查系統(tǒng)在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過程中的裕量。

靈活的產(chǎn)生信號(hào)損傷

各種的壓力損傷


許多標(biāo)準(zhǔn)要求測(cè)試在不同頻率、不同幅度、不同調(diào)制的SJ 對(duì)Rx 的影響。BERTScope 內(nèi)建的抖動(dòng)容限功能通過用戶自定義的容限模板，自動(dòng)的完成這項(xiàng)測(cè)試。同時(shí)，BERTScope 還提供了許多標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試庫供用戶使用。

 

BERTScope 內(nèi)建了高質(zhì)量、經(jīng)校準(zhǔn)的各種信號(hào)損傷源，包括RJ、SJ、BUJ 和SI。

ISI 是許多標(biāo)準(zhǔn)中常見的信號(hào)損傷類型。BSA12500ISI 差分ISI板提供了可變的鏈路長度，產(chǎn)生各種ISI 干擾。

壓力眼圖測(cè)試選項(xiàng)


BERTScope 碼型發(fā)生器

 

BSA125, BSA175, 和BSA286 系列碼型發(fā)生器提供了完整的PRBS 碼型發(fā)生功能，支持標(biāo)準(zhǔn)和自定義碼型。STR 選項(xiàng)可以產(chǎn)生集成的、經(jīng)校準(zhǔn)的壓力信號(hào)，可以替代傳統(tǒng)多儀器、手動(dòng)校準(zhǔn)的方案。

碼型捕獲

碼型捕獲

 

對(duì)未知的輸入數(shù)據(jù)有幾種處理方法。對(duì)于上面所討論的實(shí)時(shí)在線數(shù)據(jù)分析，BERTScope 還提標(biāo)配了一個(gè)非常有用的功能-碼型捕獲。該功能允許用戶指定重復(fù)碼型的長度，BERTScope連續(xù)的捕獲指定長度的數(shù)據(jù)，長度可達(dá)128Mb。這筆數(shù)據(jù)可以作為新的判決器的參考碼型，可以編輯、保存以便未來使用。

強(qiáng)大的誤碼分析功能- 在這個(gè)例子中，眼圖測(cè)試結(jié)果和BER 聯(lián)系在一起，發(fā)現(xiàn)并解決了內(nèi)存控制芯片的一個(gè)問題。左上角的眼圖顯示了在信號(hào)在十字交叉區(qū)域出現(xiàn)比正常眼圖所少見的特征。接著將BER 判決點(diǎn)移動(dòng)到該區(qū)域上仔細(xì)勘察。誤碼分析結(jié)果顯示出問題特征和碼型中第24 個(gè)標(biāo)記位有一定的聯(lián)系。進(jìn)一步調(diào)查發(fā)現(xiàn)和IC 內(nèi)部的時(shí)鐘分頻有關(guān)；系統(tǒng)時(shí)鐘是輸出數(shù)據(jù)速率的24分頻。重新設(shè)計(jì)芯片中增大了對(duì)時(shí)鐘鏈路的隔離后，就能得到右下角所示的干凈眼圖。

 

抖動(dòng)測(cè)量

MJSQ 標(biāo)準(zhǔn)Dual Dirac 抖動(dòng)測(cè)量

 

數(shù)據(jù)速率在Gb/s 的信號(hào)其眼寬就幾百個(gè)皮秒，甚至更少。因此**的抖動(dòng)測(cè)量是控制抖動(dòng)預(yù)算的重要部分。BERTScope提供兩套工具來完成這些重要抖動(dòng)測(cè)試。

物理層測(cè)試套件使用廣泛認(rèn)可的Dual Dirac方法測(cè)試總體抖動(dòng)(Total Jitter)和對(duì)總體抖動(dòng)的分離，隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)、確定性抖動(dòng)(DJ)。BERTScope 采用的是誤碼儀的方法采集數(shù)據(jù)，樣本深度遠(yuǎn)大于示波器測(cè)試抖動(dòng)時(shí)所采集的樣本深度，并很少采用推算的方法測(cè)量抖動(dòng)。從根本上講，這種方法的測(cè)試精度比高度依靠推算的方法的精度要高很多。

抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)

 

選件抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map) 是BERTScope 上*新的抖動(dòng)測(cè)量套件。該套件提供了復(fù)雜的分析子集，除了RJ和DJ 之外，還包括了許多更高速的標(biāo)準(zhǔn)一致性測(cè)試中定義的抖動(dòng)測(cè)量。選件抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map) 能在長碼型上(例如PRBS31)進(jìn)行抖動(dòng)測(cè)量和分離，也支持非PRBS 的實(shí)時(shí)在線數(shù)據(jù)抖動(dòng)分析(需要實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析選件)。

主要特性包括：

• DJ 分解為有界不相關(guān)抖動(dòng)(BUJ)，數(shù)據(jù)相關(guān)抖動(dòng)(DDJ)，碼間干擾抖動(dòng)(ISI)，占空比失真抖動(dòng)(DCD)，包含F(xiàn)/2 抖動(dòng)在內(nèi)的子速率抖動(dòng)(SRJ)
• 基于誤碼測(cè)試(非推算)的TJ測(cè)量，誤碼率水平可以到10-12甚至更小
• 區(qū)分相關(guān)和非相關(guān)性抖動(dòng)分量，減小對(duì)長碼型的DDJ 和RJ測(cè)試的混淆
• 可以測(cè)量*小眼張開度的抖動(dòng)
• 增加了其他儀器所沒有的抖動(dòng)測(cè)試項(xiàng)目：加重抖動(dòng)(EmphasisJitter)，非相關(guān)抖動(dòng)(Uncorrelated Jitter)，數(shù)據(jù)相關(guān)性脈寬損耗(DDPWS)和非ISI 抖動(dòng)
• 直觀的抖動(dòng)分離樹顯示

接口卡在線測(cè)試

Jitter Peak and BER Contour measurements made on live data.

 

BERTScope 提供的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析選項(xiàng)可為高速線卡、主板和實(shí)時(shí)的數(shù)據(jù)提供物理層測(cè)量。BERTScope 采用了新型的雙判決(Dual-decision)系統(tǒng)，可以進(jìn)行參數(shù)測(cè)量，如一致性標(biāo)準(zhǔn)的眼圖測(cè)試、抖動(dòng)、BER 輪廓和Q- 因子等- 所有的這些測(cè)試都需要時(shí)鐘信號(hào)。Jitter Map 選項(xiàng)能夠?qū)?shí)時(shí)的數(shù)據(jù)進(jìn)行深入的抖動(dòng)的解析，而無需對(duì)不知道碼型長度、或者無法預(yù)知數(shù)據(jù)流中插入的閑散符號(hào)而感到無助。故障定位和調(diào)試變得非常的簡單，只要按一個(gè)鍵就能洞察被測(cè)系統(tǒng)物理層的情況。